Planar_lightwave_circuit_interferometer
干渉計は、光波が互いに打ち消し合い、強め合う原理を利用した光学 測定装置です。干渉計は通常、距離を正確に測定するために使用されます。平面光波回路は、対応する電子回路と同じ製造技術を使用して作られた光集積回路(IC) または光回路基板であり、金属トレースを使用して電子を経路指定するのと同じ方法で、光導波路を使用して光子を経路指定します。 電子ICや回路基板に使用されます。平面光波回路干渉計( PLCI) は、干渉計として構成された平面光波回路です。PLCI は、厳密に印刷可能な任意の形式をとることができます。たとえば、マッハツェンダー、 マイケルソン、 ヤング干渉計、などです。PLCI は、マルチプレクサ/デマルチプレクサ通信技術で使用されます。
こちらも参照
干渉計の種類一覧
参考文献
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