X-ray_photon_correlation_spectroscopy
「XPCS」はXPCの複数形については、XPCを参照してください
。XP-CSについては、色素性乾皮症および
コケイン症候群を参照してください
X線光子相関分光法（XPCS）は、コヒーレント X線 シンクロトロンビームを利用してサンプルのダイナミクスを測定する新しい手法です。時間のコヒーレントスペックル変動を記録することにより、時間相関関数を測定し、したがって、関心のあるタイムスケールプロセス（拡散、緩和、再編成など）を測定することができます。XPCSは、凝縮物質システムで発生するさまざまな平衡および非平衡プロセスの遅いダイナミクスを研究するために使用されます。
コンテンツ
1 利点 2 aXPCS 3 参考文献
4 ソース
利点
XPCS実験には、材料（ガラス質材料など）の動的特性に関する情報を提供できるという利点がありますが、他の実験手法では、材料の静的構造に関する情報しか提供できません。この技術は、いくつかの空間的不均一性が存在する材料から発生する散乱コヒーレント光によるスペックルパターンの生成に基づいています。スペックルパターンは回折限界の構造因子であり、通常、レーザー光が粗い表面から、または空気中でブラウン運動を行うダスト粒子から反射されたときに観察されます。硬X線によるスペックルパターンの観察は、ここ数年で実証されたばかりです。この観測は、十分なコヒーレントフラックスを提供できる新しいシンクロトロン放射X線源の開発により、現在のみ可能です。
aXPCS
これらの手法の特定のサブグループは、原子スケールのX線光子相関分光法（aXPCS）です。
参考文献
ソース
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